Stacking faults at the boundary between 15R- and 4H-polytype in SiC: Fid-Bau Portal

Stacking faults at the boundary between 15R- and 4H-polytype in SiC

Lin, S. / Chen, Z. / Ba, Y. / Yang, M. / Li, L.

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Titel:

Stacking faults at the boundary between 15R- and 4H-polytype in SiC

Beteiligte:

Lin, S. (Autor:in) / Chen, Z. (Autor:in) / Ba, Y. (Autor:in) / Yang, M. (Autor:in) / Li, L. (Autor:in)

Erschienen in:

MATERIALS LETTERS ; 81 ; 27-30

Erscheinungsdatum:

01.01.2012

Format / Umfang:

4 pages

ISSN:

0167-577X

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.1105 / 530

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