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Assessing the impact of uncertainty in physics-of-Failure analysis of microelectronics damage

Wu, M. L.

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Titel:

Assessing the impact of uncertainty in physics-of-Failure analysis of microelectronics damage

Beteiligte:

Wu, M. L. (Autor:in)

Erschienen in:

MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING A ; 558 ; 259-264

Erscheinungsdatum:

01.01.2012

Format / Umfang:

6 pages

ISSN:

0921-5093

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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