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    Titel:

    Assessing the impact of uncertainty in physics-of-Failure analysis of microelectronics damage

    Beteiligte:

    Wu, Mei-Ling (Autor:in)

    Erschienen in:

    MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING A ; 558 ; 259-264

    Erscheinungsdatum:

    01.01.2012

    Format / Umfang:

    6 pages

    ISSN:

    0921-5093

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Unbekannt

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

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