Impact of Ir gate interfacial oxide layers on performance of AlGaN/GaN HEMT: Fid-Bau Portal

Impact of Ir gate interfacial oxide layers on performance of AlGaN/GaN HEMT

Vallo, M. / Lalinsky, T. / Dobrocka, E. / Vanko, G. / Vincze, A. / Ryger, I.

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Titel:

Impact of Ir gate interfacial oxide layers on performance of AlGaN/GaN HEMT

Beteiligte:

Vallo, M. (Autor:in) / Lalinsky, T. (Autor:in) / Dobrocka, E. (Autor:in) / Vanko, G. (Autor:in) / Vincze, A. (Autor:in) / Ryger, I. (Autor:in)

Erschienen in:

APPLIED SURFACE SCIENCE ; 267 ; 159-163

Erscheinungsdatum:

01.01.2013

Format / Umfang:

5 pages

ISSN:

0169-4332

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 621.35

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