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Thermal Stress Failures in Electronics and Photonics: Physics, Modeling, Prevention

Suhir, E.

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Titel:

Thermal Stress Failures in Electronics and Photonics: Physics, Modeling, Prevention

Beteiligte:

Suhir, E. (Autor:in)

Erschienen in:

10th International Congress on Thermal Stresses, Nanjing, China, May 31-June 4, 2013 ; 537-563

JOURNAL OF THERMAL STRESSES ; 36

Erscheinungsdatum:

01.01.2013

Format / Umfang:

27 pages

ISSN:

0149-5739

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.1121

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