Fachinformationsdienst BAUdigital

Eine Plattform für die Wissenschaft: Bauingenieurwesen, Architektur und Urbanistik

    Formation of Double Stacking Faults from Polishing Scratches on 4H-SiC (0001) Substrate

    Neue Suche nach: Ushio, S.
    Neue Suche nach: Fujimoto, T.
    Neue Suche nach: Tsuge, H.
    Neue Suche nach: Katsuno, M.
    Neue Suche nach: Sato, S.
    Neue Suche nach: Tani, K.
    Neue Suche nach: Hirano, H.
    Neue Suche nach: Yano, T.
    Neue Suche nach: Okumura, H.
    Neue Suche nach: Harima, H.
    Neue Suche nach: Kimoto, T.
    Neue Suche nach: Yoshimoto, M.
    Neue Suche nach: Watanabe, H.
    Neue Suche nach: Hatayama, T.
    Neue Suche nach: Matsuura, H.
    Neue Suche nach: Funaki, T.
    Neue Suche nach: Sano, Y.

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Seitennavigation

    Dokumentinformationen
    Ähnliche Titel

    Exportieren, teilen und zitieren

    Formation of Double Stacking Faults from Polishing Scratches on 4H-SiC (0001) Substrate

    Neue Suche nach: Ushio, S.
    Neue Suche nach: Fujimoto, T.
    Neue Suche nach: Tsuge, H.
    Neue Suche nach: Katsuno, M.
    Neue Suche nach: Sato, S.
    Neue Suche nach: Tani, K.
    Neue Suche nach: Hirano, H.
    Neue Suche nach: Yano, T.
    Neue Suche nach: Okumura, H.
    Neue Suche nach: Harima, H.
    Neue Suche nach: Kimoto, T.
    Neue Suche nach: Yoshimoto, M.
    Neue Suche nach: Watanabe, H.
    Neue Suche nach: Hatayama, T.
    Neue Suche nach: Matsuura, H.
    Neue Suche nach: Funaki, T.
    Neue Suche nach: Sano, Y.

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Formation of Double Stacking Faults from Polishing Scratches on 4H-SiC (0001) Substrate

    Neue Suche nach: Ushio, S.
    Neue Suche nach: Fujimoto, T.
    Neue Suche nach: Tsuge, H.
    Neue Suche nach: Katsuno, M.
    Neue Suche nach: Sato, S.
    Neue Suche nach: Tani, K.
    Neue Suche nach: Hirano, H.
    Neue Suche nach: Yano, T.
    Neue Suche nach: Okumura, H.
    Neue Suche nach: Harima, H.
    Neue Suche nach: Kimoto, T.
    Neue Suche nach: Yoshimoto, M.
    Neue Suche nach: Watanabe, H.
    Neue Suche nach: Hatayama, T.
    Neue Suche nach: Matsuura, H.
    Neue Suche nach: Funaki, T.
    Neue Suche nach: Sano, Y.

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Seitennavigation

    Dokumentinformationen
    Ähnliche Titel

    Exportieren, teilen und zitieren

    Dokumentinformationen
    Titel:

    Formation of Double Stacking Faults from Polishing Scratches on 4H-SiC (0001) Substrate

    Beteiligte:

    Ushio, S. (Autor:in) / Fujimoto, T. (Autor:in) / Tsuge, H. (Autor:in) / Katsuno, M. (Autor:in) / Sato, S. (Autor:in) / Tani, K. (Autor:in) / Hirano, H. (Autor:in) / Yano, T. (Autor:in) / Okumura, H. / Harima, H.

    Erschienen in:

    Silicon Carbide and Related Materials 2013 PART 1 Selected, peer reviewed papers from the 15^t^h International Conference on Silicon Carbide and Related Materials, (ICSCRM 2013), September 29 - October 4, 2013, Miyazaki, Japan ; 390-393

    MATERIALS SCIENCE FORUM ; 778/780

    Erscheinungsdatum:

    01.01.2014

    Format / Umfang:

    4 pages

    ISSN:

    0255-5476

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Englisch

    Klassifikation:

    DDC:  620.11

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

    Ähnliche Titel

    Polishing of scratches on glazes

    Singer, F. | Engineering Index Backfile | 1941

    TEA-21 scratches more than surface

    British Library Online Contents | 1998

    Using parallel scratches to simulate abrasive wear

    da Silva, W. M. / de Mello, J. D. | British Library Online Contents | 2009

    HREM study of basal stacking faults in GaN layers grown over sapphire substrate

    Potin, V. / Gil, B. / Charar, S. et al. | British Library Online Contents | 2001

    A patchwork Orange; UNESCO scratches the surface

    British Library Online Contents | 2004

    Nach oben