Transmission electron microscopy study of amorphous Ge"2Sb"2Te"5 films induced by an ultraviolet single-pulse laser: Fid-Bau Portal

Transmission electron microscopy study of amorphous Ge"2Sb"2Te"5 films induced by an ultraviolet single-pulse laser

Zhao, J. J. / Liu, F. R. / Han, X. X. / Zhu, Z. / Lin, X. / Liu, F. / Sun, N. X.

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Titel:

Transmission electron microscopy study of amorphous Ge"2Sb"2Te"5 films induced by an ultraviolet single-pulse laser

Beteiligte:

Zhao, J. J. (Autor:in) / Liu, F. R. (Autor:in) / Han, X. X. (Autor:in) / Zhu, Z. (Autor:in) / Lin, X. (Autor:in) / Liu, F. (Autor:in) / Sun, N. X. (Autor:in)

Erschienen in:

APPLIED SURFACE SCIENCE ; 311 ; 83-88

Erscheinungsdatum:

01.01.2014

Format / Umfang:

6 pages

ISSN:

0169-4332

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 621.35

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