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    Titel:

    Accurate measurement of thickness of large-area graphene layers by neutron reflectometry

    Beteiligte:

    Jang, Y. R. (Autor:in) / Kim, K. Y. (Autor:in) / Yoo, K. H. (Autor:in)

    Erschienen in:

    JOURNAL OF MATERIALS SCIENCE ; 51 ; 10059-10065

    Erscheinungsdatum:

    01.01.2016

    Format / Umfang:

    7 pages

    ISSN:

    0022-2461

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Englisch

    Klassifikation:

    DDC:  620.11

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

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