Eine Plattform für die Wissenschaft: Bauingenieurwesen, Architektur und Urbanistik
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Precision interferometric surface metrology of transparent thin film using wavelength tuning
Kim, Y. (Autor:in)
JOURNAL OF MECHANICAL SCIENCE AND TECHNOLOGY ; 31 ; 5423-5428
01.01.2017
6 pages
Aufsatz (Zeitschrift)
Englisch
DDC:
621
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