Eine Plattform für die Wissenschaft: Bauingenieurwesen, Architektur und Urbanistik
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Erratum to “Precision interferometric surface metrology of transparent thin film using wavelength tuning”
Kim, Y. (Autor:in)
JOURNAL OF MECHANICAL SCIENCE AND TECHNOLOGY ; 32 ; 3487
01.01.2018
3487 pages
Aufsatz (Zeitschrift)
Englisch
DDC:
621
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