Atom probe tomography of nanoscale electronic materials: Fid-Bau Portal

Atom probe tomography of nanoscale electronic materials

Larson, D. J. / Prosa, T. J. / Perea, D. E. / Inoue, K. / Mangelinck, D.

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Titel:

Atom probe tomography of nanoscale electronic materials

Beteiligte:

Larson, D. J. (Autor:in) / Prosa, T. J. (Autor:in) / Perea, D. E. (Autor:in) / Inoue, K. (Autor:in) / Mangelinck, D. (Autor:in)

Erschienen in:

MRS bulletin ; 41 ; 30-30

Erscheinungsdatum:

01.01.2016

Format / Umfang:

1 pages

ISSN:

0883-7694

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620

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