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    Dokumentinformationen
    Titel:

    Atom-Probe Tomography of Semiconductor Materials and Device Structures

    Beteiligte:

    Lauhon, L.J. (Autor:in) / Adusumilli, P. (Autor:in) / Ronsheim, P. (Autor:in) / Flaitz, P.L. (Autor:in) / Lawrence, D. (Autor:in)

    Erschienen in:

    MRS BULLETIN- MATERIALS RESEARCH SOCIETY ; 34 ; 738-743

    Erscheinungsdatum:

    01.01.2009

    Format / Umfang:

    6 pages

    ISSN:

    0883-7694

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Englisch

    Klassifikation:

    DDC:  620.11

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

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