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    Titel:

    Atom probe tomography—A cornerstone in materials characterization

    Beteiligte:

    Amouyal, Yaron (Autor:in) / Schmitz, Guido (Autor:in)

    Erschienen in:

    MRS bulletin ; 41 ; 13-13

    Erscheinungsdatum:

    01.01.2016

    Format / Umfang:

    1 pages

    ISSN:

    0883-7694

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Englisch

    Klassifikation:

    DDC:  620

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

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