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    Titel:

    Electrical characterization of grain boundaries of CZTS thin films using conductive atomic force microscopy techniques

    Beteiligte:

    Muhunthan, N. (Autor:in) / Singh, Om Pal (Autor:in) / Toutam, Vijaykumar (Autor:in) / Singh, V.N. (Autor:in)

    Erschienen in:

    Materials research bulletin ; 70 ; 373-378

    Erscheinungsdatum:

    01.01.2015

    Format / Umfang:

    6 pages

    ISSN:

    0025-5408

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Englisch

    Klassifikation:

    DDC:  620.11

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

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