Fachinformationsdienst BAUdigital

Eine Plattform für die Wissenschaft: Bauingenieurwesen, Architektur und Urbanistik

    Nanoscale Electrical Characterization of 3C-SiC Layers by Conductive Atomic Force Microscopy

    Neue Suche nach: Yahata, A.
    Neue Suche nach: Zhang, L.
    Neue Suche nach: Shinohe, T.

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Seitennavigation

    Dokumentinformationen
    Ähnliche Titel

    Exportieren, teilen und zitieren

    Nanoscale Electrical Characterization of 3C-SiC Layers by Conductive Atomic Force Microscopy

    Neue Suche nach: Yahata, A.
    Neue Suche nach: Zhang, L.
    Neue Suche nach: Shinohe, T.

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Nanoscale Electrical Characterization of 3C-SiC Layers by Conductive Atomic Force Microscopy

    Neue Suche nach: Yahata, A.
    Neue Suche nach: Zhang, L.
    Neue Suche nach: Shinohe, T.

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Seitennavigation

    Dokumentinformationen
    Ähnliche Titel

    Exportieren, teilen und zitieren

    Dokumentinformationen
    Titel:

    Nanoscale Electrical Characterization of 3C-SiC Layers by Conductive Atomic Force Microscopy

    Beteiligte:

    Yahata, A. (Autor:in) / Zhang, L. (Autor:in) / Shinohe, T. (Autor:in)

    Erschienen in:

    MATERIALS SCIENCE FORUM ; 389/393 ; 667-670

    Erscheinungsdatum:

    01.01.2002

    Format / Umfang:

    4 pages

    ISSN:

    0255-5476

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Englisch

    Klassifikation:

    DDC:  620.11

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

    Ähnliche Titel

    Current injection from metal to MoS2 probed at nanoscale by conductive atomic force microscopy

    Giannazzo, F. / Fisichella, G. / Piazza, A. et al. | British Library Online Contents | 2016

    Electrical characterization of grain boundaries of CZTS thin films using conductive atomic force microscopy techniques

    Muhunthan, N. / Singh, Om Pal / Toutam, Vijaykumar et al. | British Library Online Contents | 2015

    Electrical characterization of epitaxial FeSi~2 nanowire on Si (110) by conductive-atomic force microscopy

    Liang, S. / Ashcroft, B.A. | British Library Online Contents | 2010

    Nanoscale ultrasonic subsurface imaging with atomic force microscopy

    Ma, Chengfu / Arnold, Walter | DataCite | 2020

    Electrical anisotropy properties of ZnO nanorods analyzed by conductive atomic force microscopy

    Wu, Y. / Yu, N. / Liu, D. et al. | British Library Online Contents | 2013

    Nach oben