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    Titel:

    Source/drain metallization effects on the specific contact resistance of indium tin zinc oxide thin film transistors

    Beteiligte:

    Nguyen, Cam Phu Thi (Autor:in) / Trinh, Thanh Thuy (Autor:in) / Raja, Jayapal (Autor:in) / Le, Anh Huy Tuan (Autor:in) / Lee, Youn-Jung (Autor:in) / Dao, Vinh Ai (Autor:in) / Yi, Junsin (Autor:in)

    Erschienen in:

    Materials science in semiconductor processing ; 39 ; 649-653

    Erscheinungsdatum:

    01.01.2015

    Format / Umfang:

    5 pages

    ISSN:

    1369-8001

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Englisch

    Klassifikation:

    DDC:  621.38152

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

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