Physical, structural and topographical aspects of Zn1−xCoxSe thin films: Fid-Bau Portal

Physical, structural and topographical aspects of Zn1−xCoxSe thin films

Pawar, S.T. / Chavan, G.T. / Prakshale, V.M. / Sikora, A. / Pawar, S.M. / Kamble, S.S. / Maldar, N.N. / Deshmukh, L.P.

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Pawar, S.T. / Chavan, G.T. / Prakshale, V.M. / Sikora, A. / Pawar, S.M. / Kamble, S.S. / Maldar, N.N. / Deshmukh, L.P.

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Titel:

Physical, structural and topographical aspects of Zn1−xCoxSe thin films

Beteiligte:

Pawar, S.T. (Autor:in) / Chavan, G.T. (Autor:in) / Prakshale, V.M. (Autor:in) / Sikora, A. (Autor:in) / Pawar, S.M. (Autor:in) / Kamble, S.S. (Autor:in) / Maldar, N.N. (Autor:in) / Deshmukh, L.P. (Autor:in)

Erschienen in:

Materials science in semiconductor processing ; 61 ; 71-78

Erscheinungsdatum:

01.01.2017

Format / Umfang:

8 pages

ISSN:

1369-8001

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 621.38152

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