Double stack layer structure of SiNx/pm-Si thin films for downshifting and antireflection properties: Fid-Bau Portal

Double stack layer structure of SiNx/pm-Si thin films for downshifting and antireflection properties

Mon-Pérez, E. / Dutt, A. / Santoyo-Salazar, J. / Sánchez, M. / Santana, G.

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Titel:

Double stack layer structure of SiNx/pm-Si thin films for downshifting and antireflection properties

Beteiligte:

Mon-Pérez, E. (Autor:in) / Dutt, A. (Autor:in) / Santoyo-Salazar, J. (Autor:in) / Sánchez, M. (Autor:in) / Santana, G. (Autor:in)

Erschienen in:

MATERIALS LETTERS ; 203 ; 50-53

Erscheinungsdatum:

01.01.2017

Format / Umfang:

4 pages

ISSN:

0167-577X

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Unbekannt

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