Qualitative X-ray diffraction analysis of residual stresses in NdNiO3 thin films with metal-insulator transition: Fid-Bau Portal

Qualitative X-ray diffraction analysis of residual stresses in NdNiO3 thin films with metal-insulator transition

Zaghrioui, M. / Laffez, P. / Goudeau, P. / Thiaudiere, D.

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Titel:

Qualitative X-ray diffraction analysis of residual stresses in NdNiO3 thin films with metal-insulator transition

Beteiligte:

Zaghrioui, M. (Autor:in) / Laffez, P. (Autor:in) / Goudeau, P. (Autor:in) / Thiaudiere, D. (Autor:in)

Erschienen in:

JOURNAL OF MATERIALS SCIENCE LETTERS ; 21 ; 1379 - 1383

Erscheinungsdatum:

01.01.2002

Format / Umfang:

5 pages

ISSN:

0261-8028

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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