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    Titel:

    An X-ray photoelectron spectroscopy depth profile study on the InGeNi/(110) cleaved GaAs structure

    Beteiligte:

    Negrila, Constantin Catalin (Autor:in) / Lazarescu, Mihail Florin (Autor:in) / Logofatu, Constantin (Autor:in) / Ghita, Rodica V. (Autor:in) / Cotirlan, Costel (Autor:in)

    Erschienen in:

    Materials science in semiconductor processing ; 82 ; 62-66

    Erscheinungsdatum:

    01.01.2018

    Format / Umfang:

    5 pages

    ISSN:

    1369-8001

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Englisch

    Klassifikation:

    DDC:  621.38152

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

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