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    Titel:

    Oxygen vacancy induced structure change and interface reaction in HfO2 films on native SiO2/Si substrate

    Beteiligte:

    Yan, Kai (Autor:in) / Yao, Wenqing (Autor:in) / Zhao, Yuanyuan (Autor:in) / Yang, Liping (Autor:in) / Cao, Jiangli (Autor:in) / Zhu, Yongfa (Autor:in)

    Erschienen in:

    Applied surface science ; 390 ; 260-265

    Erscheinungsdatum:

    01.01.2016

    Format / Umfang:

    6 pages

    ISSN:

    0169-4332

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Englisch

    Klassifikation:

    DDC:  620.44

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

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