Anneal induced transformations of defects in hadron irradiated Si wafers and Schottky diodes: Fid-Bau Portal

Anneal induced transformations of defects in hadron irradiated Si wafers and Schottky diodes

Gaubas, E. / Ceponis, T. / Deveikis, L. / Meskauskaite, D. / Pavlov, J. / Rumbauskas, V. / Vaitkus, J. / Moll, M. / Ravotti, F.

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Titel:

Anneal induced transformations of defects in hadron irradiated Si wafers and Schottky diodes

Beteiligte:

Gaubas, E. (Autor:in) / Ceponis, T. (Autor:in) / Deveikis, L. (Autor:in) / Meskauskaite, D. (Autor:in) / Pavlov, J. (Autor:in) / Rumbauskas, V. (Autor:in) / Vaitkus, J. (Autor:in) / Moll, M. (Autor:in) / Ravotti, F. (Autor:in)

Erschienen in:

Materials science in semiconductor processing ; 75 ; 157-165

Erscheinungsdatum:

01.01.2018

Format / Umfang:

9 pages

ISSN:

1369-8001

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 621.38152

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