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    Titel:

    Electrical evaluation of crack generation in SiNx and SiOxNy thin-film encapsulation layers for OLED displays

    Beteiligte:

    Park, Eun Kil (Autor:in) / Kim, Sungmin (Autor:in) / Heo, Jaeyeong (Autor:in) / Kim, Hyeong Joon (Autor:in)

    Erschienen in:

    Applied surface science ; 370 ; 126-130

    Erscheinungsdatum:

    01.01.2016

    Format / Umfang:

    5 pages

    ISSN:

    0169-4332

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Englisch

    Klassifikation:

    DDC:  620.44

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

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