Eine Plattform für die Wissenschaft: Bauingenieurwesen, Architektur und Urbanistik
Eine Plattform für die Wissenschaft: Bauingenieurwesen, Architektur und Urbanistik
Analysis of surfactants adsorbed on cement using secondary ion mass spectrometry (SIMS)
AbstractThe SIMS-technique permits both the qualitative and the quantitative analysis of surfactants adsorbed on cement or its hydration products. The principles of such an analysis are discussed and some typical results are presented.
RésuméMit SIMS können an Zement adsorbierte Tenside qualitativ und quantitativ bestimmt werden. Die Grundlagen einer solchen Analyse und einige typische Ergebnisse werden vorgestellt.
Analysis of surfactants adsorbed on cement using secondary ion mass spectrometry (SIMS)
AbstractThe SIMS-technique permits both the qualitative and the quantitative analysis of surfactants adsorbed on cement or its hydration products. The principles of such an analysis are discussed and some typical results are presented.
RésuméMit SIMS können an Zement adsorbierte Tenside qualitativ und quantitativ bestimmt werden. Die Grundlagen einer solchen Analyse und einige typische Ergebnisse werden vorgestellt.
Analysis of surfactants adsorbed on cement using secondary ion mass spectrometry (SIMS)
Nägele, E. (Autor:in) / Schneider, U. (Autor:in)
Cement and Concrete Research ; 15 ; 1022-1026
08.08.1985
5 pages
Aufsatz (Zeitschrift)
Elektronische Ressource
Englisch
SIMS: Secondary Ion Mass Spectrometry
| British Library Online Contents | 1993
SIMS — Secondary Ion Mass Spectrometry
| Springer Verlag | 1992
Applications of Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS) in Materials Science
| British Library Online Contents | 2006
Fast atom beam bombardment secondary ion mass spectrometry: FAB-SIMS
| British Library Online Contents | 1993