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CRYSTALLINE OXIDE THIN FILM, AMORPHOUS OXIDE THIN FILM, THIN FILM TRANSISTOR AND ELECTRONIC EQUIPMENT
To provide a crystalline oxide thin film used in a thin film transistor.SOLUTION: A crystalline oxide thin film contains indium element (In), gallium element (Ga) and aluminum element (Al). The indium element, the gallium element and the aluminum element are within a composition range encircled by the following (R16), (R3), (R4) and (R17) in atom% ratio in In-Ga-Ala ternary composition diagram: In:Ga:Al=82:1:17 (R16), In:Ga:Al=90:1:9 (R3), In:Ga:Al=90:9:1 (R4), In:Ga:Al=82:17:1 (R17).SELECTED DRAWING: Figure 1
【課題】薄膜トランジスタに使用する結晶質酸化物薄膜を提供する。【解決手段】インジウム元素(In)、ガリウム元素(Ga)及びアルミニウム元素(Al)を含有し、前記インジウム元素、前記ガリウム元素及び前記アルミニウム元素が、In−Ga−Al三元系組成図において、原子%比で、下記(R16)、(R3)、(R4)及び(R17)で囲まれる組成範囲内にある結晶質酸化物薄膜。In:Ga:Al=82:1:17・・・(R16)In:Ga:Al=90:1:9・・・(R3)In:Ga:Al=90:9:1・・・(R4)In:Ga:Al=82:17:1・・・(R17)【選択図】図1
CRYSTALLINE OXIDE THIN FILM, AMORPHOUS OXIDE THIN FILM, THIN FILM TRANSISTOR AND ELECTRONIC EQUIPMENT
To provide a crystalline oxide thin film used in a thin film transistor.SOLUTION: A crystalline oxide thin film contains indium element (In), gallium element (Ga) and aluminum element (Al). The indium element, the gallium element and the aluminum element are within a composition range encircled by the following (R16), (R3), (R4) and (R17) in atom% ratio in In-Ga-Ala ternary composition diagram: In:Ga:Al=82:1:17 (R16), In:Ga:Al=90:1:9 (R3), In:Ga:Al=90:9:1 (R4), In:Ga:Al=82:17:1 (R17).SELECTED DRAWING: Figure 1
【課題】薄膜トランジスタに使用する結晶質酸化物薄膜を提供する。【解決手段】インジウム元素(In)、ガリウム元素(Ga)及びアルミニウム元素(Al)を含有し、前記インジウム元素、前記ガリウム元素及び前記アルミニウム元素が、In−Ga−Al三元系組成図において、原子%比で、下記(R16)、(R3)、(R4)及び(R17)で囲まれる組成範囲内にある結晶質酸化物薄膜。In:Ga:Al=82:1:17・・・(R16)In:Ga:Al=90:1:9・・・(R3)In:Ga:Al=90:9:1・・・(R4)In:Ga:Al=82:17:1・・・(R17)【選択図】図1
CRYSTALLINE OXIDE THIN FILM, AMORPHOUS OXIDE THIN FILM, THIN FILM TRANSISTOR AND ELECTRONIC EQUIPMENT
結晶質酸化物薄膜、アモルファス酸化物薄膜、薄膜トランジスタ、及び電子機器
INOUE KAZUYOSHI (Autor:in) / SHIBATA MASATOSHI (Autor:in) / KAWASHIMA EMI (Autor:in) / SASAKI KENICHI (Autor:in) / YAO ATSUSHI (Autor:in)
20.05.2021
Patent
Elektronische Ressource
Japanisch
Europäisches Patentamt | 2020
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