A platform for research: civil engineering, architecture and urbanism
CERAMIC FILM, SPUTTERING TARGET, AND METHOD FOR PRODUCING SPUTTERING TARGET
To provide a ceramic film with high film hardness, and a sputtering target that can form the ceramic film by direct-current sputtering.SOLUTION: A ceramic film contains Ti: 8.5 mass% or more and 36 mass% or less, Y: 0.10 mass% or more and 8.0 mass% or less, and Si, Al, N(nitrogen), O(oxygen) and C(carbon), formed by sputtering, with the content of C being 0.15 mass% or more and 1.8 mass% or less. The sputtering target contains Ti: 8.5 mass% or more and 35 mass% or less, Y: 0.10 mass% or more and 6.0 mass% or less, and Si, Al, N, O and C, with the content of C being 0.20 mass% or more and 2.0 mass% or less.SELECTED DRAWING: Figure 1
【課題】膜硬度の高いセラミックス膜、そのセラミックス膜を直流スパッタリングによって成膜することができるスパッタリングターゲットを提供する。【解決手段】セラミックス膜は、Ti:8.5質量%以上36質量%以下と、Y:0.10質量%以上8.0質量%以下と、SiとAlとN(窒素)とO(酸素)とC(炭素)とを含む、スパッタリングにて形成された膜であって、Cを、0.15質量%以上1.8質量%以下の範囲内にて含む。スパッタリングターゲットは、Ti:8.5質量%以上35質量%以下と、Y:0.10質量%以上6.0質量%以下と、SiとAlとNとOとCとを含む、スパッタリングターゲットであって、Cを、0.20質量%以上2.0質量%以下の範囲内にて含む。【選択図】図1
CERAMIC FILM, SPUTTERING TARGET, AND METHOD FOR PRODUCING SPUTTERING TARGET
To provide a ceramic film with high film hardness, and a sputtering target that can form the ceramic film by direct-current sputtering.SOLUTION: A ceramic film contains Ti: 8.5 mass% or more and 36 mass% or less, Y: 0.10 mass% or more and 8.0 mass% or less, and Si, Al, N(nitrogen), O(oxygen) and C(carbon), formed by sputtering, with the content of C being 0.15 mass% or more and 1.8 mass% or less. The sputtering target contains Ti: 8.5 mass% or more and 35 mass% or less, Y: 0.10 mass% or more and 6.0 mass% or less, and Si, Al, N, O and C, with the content of C being 0.20 mass% or more and 2.0 mass% or less.SELECTED DRAWING: Figure 1
【課題】膜硬度の高いセラミックス膜、そのセラミックス膜を直流スパッタリングによって成膜することができるスパッタリングターゲットを提供する。【解決手段】セラミックス膜は、Ti:8.5質量%以上36質量%以下と、Y:0.10質量%以上8.0質量%以下と、SiとAlとN(窒素)とO(酸素)とC(炭素)とを含む、スパッタリングにて形成された膜であって、Cを、0.15質量%以上1.8質量%以下の範囲内にて含む。スパッタリングターゲットは、Ti:8.5質量%以上35質量%以下と、Y:0.10質量%以上6.0質量%以下と、SiとAlとNとOとCとを含む、スパッタリングターゲットであって、Cを、0.20質量%以上2.0質量%以下の範囲内にて含む。【選択図】図1
CERAMIC FILM, SPUTTERING TARGET, AND METHOD FOR PRODUCING SPUTTERING TARGET
セラミックス膜、スパッタリングターゲット、及びスパッタリングターゲットの製造方法
JOHO MASANORI (author) / NAGAO MASAYOSHI (author)
2019-02-07
Patent
Electronic Resource
Japanese
European Patent Office | 2020
|SPUTTERING TARGET, METHOD FOR PRODUCING SPUTTERING TARGET AND OPTICAL FUNCTIONAL FILM
European Patent Office | 2021
|Sputtering target and method of producing sputtering target
European Patent Office | 2024
|SPUTTERING TARGET AND METHOD OF PRODUCING SPUTTERING TARGET
European Patent Office | 2022
|SPUTTERING TARGET, METHOD FOR PRODUCING SPUTTERING TARGET, AND OPTICAL FUNCTIONAL FILM
European Patent Office | 2022
|