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SEMICONDUCTOR MANUFACTURING APPARATUS MEMBER
To make tanδ of a semiconductor manufacturing apparatus member low.SOLUTION: A surface that contacts plasma, of a lid 22 of a chamber 20, (namely plasma contact surface) is formed of a polycrystalline material comprising CeO2 and ZrO2 as main components. The content of CeO2 in the polycrystalline material is 12 mol% or more and 30 mol% or less, with the balance being ZrO2. The aggregate content of a tetragonal crystal and a cubic crystal included in crystal of the polycrystalline material is 90 mass% or more. The porosity of the polycrystalline material is 3% or less. Thereby, tanδ of the polycrystalline material can be made low.SELECTED DRAWING: Figure 1
【課題】半導体製造装置部材のtanδを小さくする。【解決手段】チャンバ20の蓋部22のプラズマに接する面(すなわち、プラズマ接触面)は、CeO2およびZrO2を主成分とする多結晶体により形成される。当該多結晶体において、CeO2の含有率は12mol%以上かつ30mol%以下であり、残部がZrO2である。当該多結晶体の結晶中に含まれる正方晶および立方晶の合計割合は90質量%以上である。当該多結晶体の気孔率は3%以下である。これにより、多結晶体のtanδを小さくすることができる。【選択図】図1
SEMICONDUCTOR MANUFACTURING APPARATUS MEMBER
To make tanδ of a semiconductor manufacturing apparatus member low.SOLUTION: A surface that contacts plasma, of a lid 22 of a chamber 20, (namely plasma contact surface) is formed of a polycrystalline material comprising CeO2 and ZrO2 as main components. The content of CeO2 in the polycrystalline material is 12 mol% or more and 30 mol% or less, with the balance being ZrO2. The aggregate content of a tetragonal crystal and a cubic crystal included in crystal of the polycrystalline material is 90 mass% or more. The porosity of the polycrystalline material is 3% or less. Thereby, tanδ of the polycrystalline material can be made low.SELECTED DRAWING: Figure 1
【課題】半導体製造装置部材のtanδを小さくする。【解決手段】チャンバ20の蓋部22のプラズマに接する面(すなわち、プラズマ接触面)は、CeO2およびZrO2を主成分とする多結晶体により形成される。当該多結晶体において、CeO2の含有率は12mol%以上かつ30mol%以下であり、残部がZrO2である。当該多結晶体の結晶中に含まれる正方晶および立方晶の合計割合は90質量%以上である。当該多結晶体の気孔率は3%以下である。これにより、多結晶体のtanδを小さくすることができる。【選択図】図1
SEMICONDUCTOR MANUFACTURING APPARATUS MEMBER
半導体製造装置部材
TAKAHASHI TOMONORI (author) / YOSHIDA SHINYA (author)
2022-01-13
Patent
Electronic Resource
Japanese
SEMICONDUCTOR MANUFACTURING APPARATUS MEMBER AND SEMICONDUCTOR MANUFACTURING APPARATUS
European Patent Office | 2022
|European Patent Office | 2018
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