Facility for the curvature-based measurement of the nanotopography of complex surfaces [4098-13]: Fid-Bau Portal

Facility for the curvature-based measurement of the nanotopography of complex surfaces [4098-13]

Thomsen-Schmidt, P. / Schulz, M. / Weingartner, I. / SPIE - International Society for Optical Engineering

Zugriff

Zugriff über TIB

Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen

Bestellung bei Subito €

Seitennavigation

Dokumentinformationen

Ähnliche Titel

Exportieren, teilen und zitieren

Facility for the curvature-based measurement of the nanotopography of complex surfaces [4098-13]

Thomsen-Schmidt, P. / Schulz, M. / Weingartner, I. / SPIE - International Society for Optical Engineering

Facility for the curvature-based measurement of the nanotopography of complex surfaces [4098-13]

Thomsen-Schmidt, P. / Schulz, M. / Weingartner, I. / SPIE - International Society for Optical Engineering

Zugriff

Zugriff über TIB

Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen

Bestellung bei Subito €

Seitennavigation

Dokumentinformationen

Ähnliche Titel

Exportieren, teilen und zitieren

Dokumentinformationen

Titel:

Facility for the curvature-based measurement of the nanotopography of complex surfaces [4098-13]

Beteiligte:

Thomsen-Schmidt, P. (Autor:in) / Schulz, M. (Autor:in) / Weingartner, I. (Autor:in) / Andrews, D. L. / SPIE - International Society for Optical Engineering

Kongress:

Conference, Optical devices and diagnostics in materials science ; 2000 ; San Diego, CA

Erschienen in:

Optical devices and diagnostics in materials science ; 94-101

PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING ; 4098

Erscheinungsdatum:

01.01.2000

Format / Umfang:

8 pages

ISBN:

0819437433

ISSN:

0277-786X

Medientyp:

Aufsatz (Konferenz)

Format:

Sprache:

Englisch

Schlagwörter:

optical devices , SPIE , materials science , optical engineering

Schulz, M. / Thomsen-Schmidt, P. / Weingartner, I. et al. | British Library Conference Proceedings | 2000

Sharpened carbon nanotube probes [4098-11]

Moloni, K. / Lal, A. / Lagally, M. G. et al. | British Library Conference Proceedings | 2000

Raman spectroscopy in nanopolyacetylene [4098-29]

Kobryanskii, V. M. / Paraschuk, D. Y. / Shchegolikhin, A. N. et al. | British Library Conference Proceedings | 2000

Measurement of elastic properties of thin films by surface Brillouin scattering [4098-41]

Beghi, M. G. / Bottani, C. E. / Pastorelli, R. et al. | British Library Conference Proceedings | 2000

Raman microscopic analysis in museology (Invited Paper) [4098-36]

Withnall, R. / Derbyshire, A. / Thiel, S. et al. | British Library Conference Proceedings | 2000

Nach oben