TEM characterization of the GaP/Si interface grown by MOCVD: Fid-Bau Portal

TEM characterization of the GaP/Si interface grown by MOCVD

Soga, T. / Jiang, Z. K. / Suzuki, T. / Jimbo, T.

Zugriff

Zugriff über TIB

Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen

Bestellung bei Subito €

Seitennavigation

Dokumentinformationen

Ähnliche Titel

Exportieren, teilen und zitieren

TEM characterization of the GaP/Si interface grown by MOCVD

Soga, T. / Jiang, Z. K. / Suzuki, T. / Jimbo, T.

TEM characterization of the GaP/Si interface grown by MOCVD

Soga, T. / Jiang, Z. K. / Suzuki, T. / Jimbo, T.

Zugriff

Zugriff über TIB

Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen

Bestellung bei Subito €

Seitennavigation

Dokumentinformationen

Ähnliche Titel

Exportieren, teilen und zitieren

Dokumentinformationen

Titel:

TEM characterization of the GaP/Si interface grown by MOCVD

Beteiligte:

Soga, T. (Autor:in) / Jiang, Z. K. (Autor:in) / Suzuki, T. (Autor:in) / Jimbo, T. (Autor:in)

Erschienen in:

APPLIED SURFACE SCIENCE ; 60 ; 380

Erscheinungsdatum:

01.01.1992

Format / Umfang:

380 pages

ISSN:

0169-4332

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Unbekannt

Klassifikation:

DDC: 621.35

Imhoff, L. / Heintz, O. / Gauthier, V. et al. | British Library Online Contents | 2006

Characterization of MOCVD-grown GaAs on Si by spectroscopic ellipsometry

Yu, G. / Soga, T. / Jimbo, T. et al. | British Library Online Contents | 1996

Characterization of MOCVD-grown GaAs on Si by spectroscopic ellipsometry

Yu, G. / Soga, T. / Jimbo, T. et al. | British Library Online Contents | 1996

Structural and Morphological Characterization of Iridium Coatings Grown by MOCVD

Wenbin, Y. / Litong, Z. / Laifei, C. | British Library Online Contents | 2006

Structural and morphological characterization of iridium coatings grown by MOCVD

Hua, Y. / Zhang, L. / Cheng, L. et al. | British Library Online Contents | 2005

Nach oben