Micronic n-channel MOSFET degradation under strong and short-time hot-carrier stress: Fid-Bau Portal

Micronic n-channel MOSFET degradation under strong and short-time hot-carrier stress

Djahli, F. / Plossu, C. / Balland, B.

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Titel:

Micronic n-channel MOSFET degradation under strong and short-time hot-carrier stress

Beteiligte:

Djahli, F. (Autor:in) / Plossu, C. (Autor:in) / Balland, B. (Autor:in)

Erschienen in:

MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING -LAUSANNE- B ; 15 ; 164

Erscheinungsdatum:

01.01.1992

Format / Umfang:

164 pages

ISSN:

0921-5107

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Unbekannt

Klassifikation:

DDC: 620.11

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