In situ spectroscopic ellipsometry in molecular beam epitaxy for photonic devices: Fid-Bau Portal

In situ spectroscopic ellipsometry in molecular beam epitaxy for photonic devices

Maracas, G. N. / Edwards, J. L. / Gerber, D. S. / Droopad, R.

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Titel:

In situ spectroscopic ellipsometry in molecular beam epitaxy for photonic devices

Beteiligte:

Maracas, G. N. (Autor:in) / Edwards, J. L. (Autor:in) / Gerber, D. S. (Autor:in) / Droopad, R. (Autor:in)

Erschienen in:

APPLIED SURFACE SCIENCE ; 63 ; 1

Erscheinungsdatum:

01.01.1993

Format / Umfang:

1 pages

ISSN:

0169-4332

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Unbekannt

Klassifikation:

DDC: 621.35

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