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    Titel:

    Investigation of the relaxation of excess carriers in SiGe-heterostructures by photothermal measurement

    Beteiligte:

    Geiler, H. D. (Autor:in) / Kruegel, S. (Autor:in) / Nuetzel, J. (Autor:in) / Friess, E. (Autor:in)

    Erschienen in:

    APPLIED SURFACE SCIENCE ; 63 ; 260

    Erscheinungsdatum:

    01.01.1993

    Format / Umfang:

    260 pages

    ISSN:

    0169-4332

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Unbekannt

    Klassifikation:

    DDC:  621.35

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

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