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    Titel:

    Investigation of SiGe/Si - Heterostructures with High Resolution X-Ray Diffraction Methods

    Beteiligte:

    Frohberg, K. (Autor:in) / Wehner, B. (Autor:in) / Trui, B. (Autor:in) / Wolf, K. (Autor:in) / Paufler, P. (Autor:in) / Kuck, H. (Autor:in)

    Erschienen in:

    MATERIALS SCIENCE FORUM ; 321/324 ; 457-462

    Erscheinungsdatum:

    01.01.2000

    Format / Umfang:

    6 pages

    ISSN:

    0255-5476

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Englisch

    Klassifikation:

    DDC:  620.11

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

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