Origin of residual stress in a textured Au thin film on a LiF substrate: Fid-Bau Portal

Origin of residual stress in a textured Au thin film on a LiF substrate

Durand, N. / Badawi, K. F. / Declemy, A. / Goudeau, P.

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Titel:

Origin of residual stress in a textured Au thin film on a LiF substrate

Beteiligte:

Durand, N. (Autor:in) / Badawi, K. F. (Autor:in) / Declemy, A. (Autor:in) / Goudeau, P. (Autor:in)

Erschienen in:

APPLIED SURFACE SCIENCE ; 81 ; 119

Erscheinungsdatum:

01.01.1994

Format / Umfang:

119 pages

ISSN:

0169-4332

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Unbekannt

Klassifikation:

DDC: 621.35

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