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Assumptions in Thin Film Residual Stress Methods

Vermeulen, A. C.

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Titel:

Assumptions in Thin Film Residual Stress Methods

Beteiligte:

Vermeulen, A. C. (Autor:in)

Erschienen in:

MATERIALS SCIENCE FORUM ; 404/407 ; 35-42

Erscheinungsdatum:

01.01.2002

Format / Umfang:

8 pages

ISSN:

0255-5476

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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