Defect profiling in multilayered systems using mean depth scaling: Fid-Bau Portal

Defect profiling in multilayered systems using mean depth scaling

Aers, G. C. / Marshall, P. A. / Leung, T. C. / Goldberg, R. D.

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Titel:

Defect profiling in multilayered systems using mean depth scaling

Beteiligte:

Aers, G. C. (Autor:in) / Marshall, P. A. (Autor:in) / Leung, T. C. (Autor:in) / Goldberg, R. D. (Autor:in) / Doyama, M. / Akahane, T. / Fujinami, M.

Erschienen in:

Proceedings of the Sixth International Workshop on Slow-Positron Beam Techniques for Solids and Surfaces ; 196

APPLIED SURFACE SCIENCE ; 85

Erscheinungsdatum:

01.01.1995

Format / Umfang:

196 pages

ISSN:

0169-4332

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Unbekannt

Klassifikation:

DDC: 621.35

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