Scanning electron microscopy observations of misfit dislocations in epitaxial In~0~.~2~5Ga~0~.~7~5As on GaAs(001): Fid-Bau Portal

Scanning electron microscopy observations of misfit dislocations in epitaxial In~0~.~2~5Ga~0~.~7~5As on GaAs(001)

Keller, R. R. / Phelps, J. M.

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Titel:

Scanning electron microscopy observations of misfit dislocations in epitaxial In~0~.~2~5Ga~0~.~7~5As on GaAs(001)

Beteiligte:

Keller, R. R. (Autor:in) / Phelps, J. M. (Autor:in)

Erschienen in:

JOURNAL OF MATERIALS RESEARCH -PITTSBURGH- ; 11 ; 552-554

Erscheinungsdatum:

01.01.1996

Format / Umfang:

3 pages

ISSN:

0884-2914

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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