Atomic-column scanning transmission electron microscopy analysis of misfit dislocations in GaSb/GaAs quantum dots: Fid-Bau Portal

Atomic-column scanning transmission electron microscopy analysis of misfit dislocations in GaSb/GaAs quantum dots

Fernández-Delgado, N. / Herrera, M. / Chisholm, M. F. / Kamarudin, M. A. / Zhuang, Q. D. / Hayne, M. / Molina, S. I.

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Titel:

Atomic-column scanning transmission electron microscopy analysis of misfit dislocations in GaSb/GaAs quantum dots

Beteiligte:

Fernández-Delgado, N. (Autor:in) / Herrera, M. (Autor:in) / Chisholm, M. F. (Autor:in) / Kamarudin, M. A. (Autor:in) / Zhuang, Q. D. (Autor:in) / Hayne, M. (Autor:in) / Molina, S. I. (Autor:in)

Erschienen in:

JOURNAL OF MATERIALS SCIENCE ; 51 ; 7691-7698

Erscheinungsdatum:

01.01.2016

Format / Umfang:

8 pages

ISSN:

0022-2461

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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