High Resolution Electron Microscopy of Misfit Dislocations at Metal-Oxide Interfaces: Fid-Bau Portal

High Resolution Electron Microscopy of Misfit Dislocations at Metal-Oxide Interfaces

Groen, H. B. / Kooi, B. J. / Vellinga, W. P. / De Hosson, J. T. M.

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Titel:

High Resolution Electron Microscopy of Misfit Dislocations at Metal-Oxide Interfaces

Beteiligte:

Groen, H. B. (Autor:in) / Kooi, B. J. (Autor:in) / Vellinga, W. P. (Autor:in) / De Hosson, J. T. M. (Autor:in)

Erschienen in:

MATERIALS SCIENCE FORUM ; 294/296 ; 107-110

Erscheinungsdatum:

01.01.1999

Format / Umfang:

4 pages

ISSN:

0255-5476

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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