Crystallographic shear planes in nanocrystalline SnO~2 thin films by high-resolution transmission electron microscopy: Fid-Bau Portal

Crystallographic shear planes in nanocrystalline SnO~2 thin films by high-resolution transmission electron microscopy

Zheng, J. G. / Pan, X. / Schweizer, M. / Weimar, U. / Goepel, W. / Ruehle, M.

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Titel:

Crystallographic shear planes in nanocrystalline SnO~2 thin films by high-resolution transmission electron microscopy

Beteiligte:

Zheng, J. G. (Autor:in) / Pan, X. (Autor:in) / Schweizer, M. (Autor:in) / Weimar, U. (Autor:in) / Goepel, W. (Autor:in) / Ruehle, M. (Autor:in)

Erschienen in:

JOURNAL OF MATERIALS SCIENCE ; 31 ; 2317-2324

Erscheinungsdatum:

01.01.1996

Format / Umfang:

8 pages

ISSN:

0022-2461

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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