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    Dokumentinformationen
    Titel:

    SIMS characterization of noble metal-based thin film electrodes

    Beteiligte:

    Piccirillo, C. (Autor:in) / Daolio, S. (Autor:in) / Gelosi, S. (Autor:in) / Pagura, C. (Autor:in) / Facchin, B. (Autor:in) / Kristof, J. (Autor:in)

    Erschienen in:

    MATERIALS SCIENCE FORUM ; 625-630

    Erscheinungsdatum:

    01.01.1997

    Format / Umfang:

    6 pages

    ISSN:

    0255-5476

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Englisch

    Klassifikation:

    DDC:  620.11

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

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