Fully depleted SOI-CMOS technology for high temperature IC applications: Fid-Bau Portal

Fully depleted SOI-CMOS technology for high temperature IC applications

Gentinne, B. / Eggermont, J.-P. / Flandre, D. / Colinge, J.-P.

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Titel:

Fully depleted SOI-CMOS technology for high temperature IC applications

Beteiligte:

Gentinne, B. (Autor:in) / Eggermont, J.-P. (Autor:in) / Flandre, D. (Autor:in) / Colinge, J.-P. (Autor:in) / Camassel, J. / Fricke, K. / Krozer, V. / Robert, J. L.

Erschienen in:

High Temperature Electronics: Materials, Devices and Applications ; 1-7

MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING -LAUSANNE- B ; 46

Erscheinungsdatum:

01.01.1997

Format / Umfang:

7 pages

ISSN:

0921-5107

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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