Observation of Short-wavelength Recorded Pits in GeSb~2Te~4 Phase Change Thin Film by Atomic Force Microscopy: Fid-Bau Portal

Observation of Short-wavelength Recorded Pits in GeSb~2Te~4 Phase Change Thin Film by Atomic Force Microscopy

Men, L. / Gan, F. / Sun, J. / Li, M.

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Titel:

Observation of Short-wavelength Recorded Pits in GeSb~2Te~4 Phase Change Thin Film by Atomic Force Microscopy

Beteiligte:

Men, L. (Autor:in) / Gan, F. (Autor:in) / Sun, J. (Autor:in) / Li, M. (Autor:in)

Erschienen in:

APPLIED SURFACE SCIENCE ; 120 ; 171-179

Erscheinungsdatum:

01.01.1997

Format / Umfang:

9 pages

ISSN:

0169-4332

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 621.35

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