Fachinformationsdienst BAUdigital

Eine Plattform für die Wissenschaft: Bauingenieurwesen, Architektur und Urbanistik

    Determination of stoichiometry and oxygen content in platelike and octahedral oxygen precipitates in silicon with FT-IT spectroscopy

    Neue Suche nach: De Gryse, O.
    Neue Suche nach: Clauws, P.
    Neue Suche nach: Vanhellemont, J.
    Neue Suche nach: Claeys, C.

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Seitennavigation

    Dokumentinformationen
    Ähnliche Titel

    Exportieren, teilen und zitieren

    Determination of stoichiometry and oxygen content in platelike and octahedral oxygen precipitates in silicon with FT-IT spectroscopy

    Neue Suche nach: De Gryse, O.
    Neue Suche nach: Clauws, P.
    Neue Suche nach: Vanhellemont, J.
    Neue Suche nach: Claeys, C.

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Determination of stoichiometry and oxygen content in platelike and octahedral oxygen precipitates in silicon with FT-IT spectroscopy

    Neue Suche nach: De Gryse, O.
    Neue Suche nach: Clauws, P.
    Neue Suche nach: Vanhellemont, J.
    Neue Suche nach: Claeys, C.

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Seitennavigation

    Dokumentinformationen
    Ähnliche Titel

    Exportieren, teilen und zitieren

    Dokumentinformationen
    Titel:

    Determination of stoichiometry and oxygen content in platelike and octahedral oxygen precipitates in silicon with FT-IT spectroscopy

    Beteiligte:

    De Gryse, O. (Autor:in) / Clauws, P. (Autor:in) / Vanhellemont, J. (Autor:in) / Claeys, C. (Autor:in)

    Erschienen in:

    MATERIALS SCIENCE FORUM ; 258/263 ; 405-410

    Erscheinungsdatum:

    01.01.1997

    Format / Umfang:

    6 pages

    ISSN:

    0255-5476

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Englisch

    Klassifikation:

    DDC:  620.11

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

    Ähnliche Titel

    Stoichiometry of oxygen precipitates in silicon

    Pivac, B. / Borghesi, A. / Geddo, M. et al. | British Library Online Contents | 1993

    Oxygen precipitates in annealed CZ silicon wafers detected by SIRM and FTIR spectroscopy

    Veve, C. / Stemmer, M. / Martinuzzi, S. | British Library Online Contents | 1996

    Infrared characterization of oxygen precipitates in silicon wafers with different concentrations of interstitial oxygen

    Borghesi, A. / Sassella, A. / Geranzani, P. et al. | British Library Online Contents | 2000

    Non-destructive diagnostic techniques for oxygen precipitates in Czochralski silicon

    Bazzali, A. / Borionetti, G. / Falster, R. et al. | British Library Online Contents | 2001

    Corrosion Fracture of Platelike Heat Exchangers

    Narivs’kyi, O. E. | British Library Online Contents | 2005

    Nach oben