High Resolution X-Ray Diffraction Characterization of [111]B Oriented InGaAs/GaAs MQW Structures: Fid-Bau Portal

High Resolution X-Ray Diffraction Characterization of [111]B Oriented InGaAs/GaAs MQW Structures

Sanz-Hervas, A. / Sacedon, A. / Abril, E. J. / Sanchez-Rojas, J. L. / Villar, C. / DeBenito, G. / Aguilar, M. / Lopez, M. / Calleja, E. / Mu�oz, W.

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Sanz-Hervas, A. / Sacedon, A. / Abril, E. J. / Sanchez-Rojas, J. L. / Villar, C. / DeBenito, G. / Aguilar, M. / Lopez, M. / Calleja, E. / Mu�oz, W.

High Resolution X-Ray Diffraction Characterization of [111]B Oriented InGaAs/GaAs MQW Structures

Sanz-Hervas, A. / Sacedon, A. / Abril, E. J. / Sanchez-Rojas, J. L. / Villar, C. / DeBenito, G. / Aguilar, M. / Lopez, M. / Calleja, E. / Mu�oz, W.

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Titel:

High Resolution X-Ray Diffraction Characterization of [111]B Oriented InGaAs/GaAs MQW Structures

Beteiligte:

Sanz-Hervas, A. (Autor:in) / Sacedon, A. (Autor:in) / Abril, E. J. (Autor:in) / Sanchez-Rojas, J. L. (Autor:in) / Villar, C. (Autor:in) / DeBenito, G. (Autor:in) / Aguilar, M. (Autor:in) / Lopez, M. (Autor:in) / Calleja, E. (Autor:in) / Mu�oz, W. (Autor:in)

Erschienen in:

ADVANCES IN X RAY ANALYSIS ; 439-448

Erscheinungsdatum:

01.01.1997

Format / Umfang:

10 pages

ISSN:

0376-0308

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 539.7222

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