Structural and electrical characterization of epitaxial CdF~2 layers grown on Si(111) and CaF~2(111) substrates: Fid-Bau Portal

Structural and electrical characterization of epitaxial CdF~2 layers grown on Si(111) and CaF~2(111) substrates

Lee, B. C. / Khilko, A. Y. / Shusterman, Y. V. / Yakovlev, N. L. / Sokolov, N. S. / Kyutt, R. N. / Suturin, S. M. / Schowalter, L. J.

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Lee, B. C. / Khilko, A. Y. / Shusterman, Y. V. / Yakovlev, N. L. / Sokolov, N. S. / Kyutt, R. N. / Suturin, S. M. / Schowalter, L. J.

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Titel:

Structural and electrical characterization of epitaxial CdF~2 layers grown on Si(111) and CaF~2(111) substrates

Beteiligte:

Lee, B. C. (Autor:in) / Khilko, A. Y. (Autor:in) / Shusterman, Y. V. (Autor:in) / Yakovlev, N. L. (Autor:in) / Sokolov, N. S. (Autor:in) / Kyutt, R. N. (Autor:in) / Suturin, S. M. (Autor:in) / Schowalter, L. J. (Autor:in)

Erschienen in:

APPLIED SURFACE SCIENCE ; 123/124 ; 590-594

Erscheinungsdatum:

01.01.1998

Format / Umfang:

5 pages

ISSN:

0169-4332

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 621.35

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