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Conducting Probe Atomic Force Microscopy: A Characterization Tool for Molecular Electronics

Kelley, T. W. / Granstrom, E. L. / Frisbie, C. D.

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Titel:

Conducting Probe Atomic Force Microscopy: A Characterization Tool for Molecular Electronics

Beteiligte:

Kelley, T. W. (Autor:in) / Granstrom, E. L. (Autor:in) / Frisbie, C. D. (Autor:in)

Erschienen in:

ADVANCED MATERIALS -DEERFIELD BEACH- ; 11 ; 261-264

Erscheinungsdatum:

01.01.1999

Format / Umfang:

4 pages

ISSN:

0935-9648

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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