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    Dokumentinformationen
    Titel:

    DLTS analysis of nickel-hydrogen complex defects in silicon

    Beteiligte:

    Shiraishi, M. (Autor:in) / Sachse, J.-U. (Autor:in) / Lemke, H. (Autor:in) / Weber, J. (Autor:in) / Weber, J. / Mesli, A.

    Erschienen in:

    Symposium A Detects in Snmon Hy[?] ; 130-133

    MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING -LAUSANNE- B ; 58

    Erscheinungsdatum:

    01.01.1999

    Format / Umfang:

    4 pages

    ISSN:

    0921-5107

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Englisch

    Klassifikation:

    DDC:  620.11

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

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