Raman and X-ray photoelectron spectroscopy study of carbon nitride thin films: Fid-Bau Portal

Raman and X-ray photoelectron spectroscopy study of carbon nitride thin films

Petrov, P. / Dimitrov, D.B. / Papadimitriou, D. / Beshkov, G. / Krastev, V. / Georgiev, C.

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Titel:

Raman and X-ray photoelectron spectroscopy study of carbon nitride thin films

Beteiligte:

Petrov, P. (Autor:in) / Dimitrov, D.B. (Autor:in) / Papadimitriou, D. (Autor:in) / Beshkov, G. (Autor:in) / Krastev, V. (Autor:in) / Georgiev, C. (Autor:in)

Erschienen in:

APPLIED SURFACE SCIENCE ; 151 ; 233-238

Erscheinungsdatum:

01.01.1999

Format / Umfang:

6 pages

ISSN:

0169-4332

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 621.35

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