Fachinformationsdienst BAUdigital

Eine Plattform für die Wissenschaft: Bauingenieurwesen, Architektur und Urbanistik

    Optimisation of experimental conditions for variable angle spectroscopic ellipsometry analysis. Application to GaAs/(Al,Ga)As quantum well characterisation

    Neue Suche nach: Colard, S.
    Neue Suche nach: Mihailovic, M.

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Seitennavigation

    Dokumentinformationen
    Ähnliche Titel

    Exportieren, teilen und zitieren

    Optimisation of experimental conditions for variable angle spectroscopic ellipsometry analysis. Application to GaAs/(Al,Ga)As quantum well characterisation

    Neue Suche nach: Colard, S.
    Neue Suche nach: Mihailovic, M.

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Optimisation of experimental conditions for variable angle spectroscopic ellipsometry analysis. Application to GaAs/(Al,Ga)As quantum well characterisation

    Neue Suche nach: Colard, S.
    Neue Suche nach: Mihailovic, M.

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Seitennavigation

    Dokumentinformationen
    Ähnliche Titel

    Exportieren, teilen und zitieren

    Dokumentinformationen
    Titel:

    Optimisation of experimental conditions for variable angle spectroscopic ellipsometry analysis. Application to GaAs/(Al,Ga)As quantum well characterisation

    Beteiligte:

    Colard, S. (Autor:in) / Mihailovic, M. (Autor:in)

    Erschienen in:

    MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING -LAUSANNE- B ; 66 ; 88 - 91

    Erscheinungsdatum:

    01.01.1999

    Format / Umfang:

    4 pages

    ISSN:

    0921-5107

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Englisch

    Klassifikation:

    DDC:  620.11

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

    Ähnliche Titel

    Variable Angle Spectroscopic Ellipsometry investigation of CVD-grown monolayer graphene

    Castriota, Marco / Politano, Grazia Giuseppina / Vena, Carlo et al. | British Library Online Contents | 2019

    Optical Characterization of 4H-SiC by Variable Angle of Incidence Spectroscopic Ellipsometry

    Lindquist, O. P. A. / Arwin, H. / Forsberg, U. et al. | British Library Online Contents | 2000

    Sensitivity of variable angle of incidence spectroscopic ellipsometry to compositional profiles of graded Al~xGa~1~-~xAs-GaAs structures

    Tonova, D. A. / Konova, A. A. | British Library Online Contents | 1994

    Optical dispersion analysis of TiO"2 thin films based on variable-angle spectroscopic ellipsometry measurements

    Mardare, D. / Hones, P. | British Library Online Contents | 1999

    Characterisation of epitaxial layers on silicon by spectroscopic ellipsometry

    Dittmar, G. / Gruska, B. | British Library Online Contents | 2000

    Nach oben